本文將整合多個(gè)重要的PMIC測(cè)試方案,探討如何利用先進(jìn)的測(cè)試技術(shù),如DC-DC電源管理芯片效率測(cè)試、電源環(huán)路響應(yīng)測(cè)試、共模瞬變抗擾度(CMTI)測(cè)試、傳輸線脈沖(TLP)測(cè)試、電源抑制比(PSRR)測(cè)試和失效分析等,為PMIC產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用提供全方位的支持。通過(guò)高效智能的測(cè)試流程,不僅能夠提高產(chǎn)品的可靠性,還能加速產(chǎn)品的市場(chǎng)推廣。
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